特許
J-GLOBAL ID:200903096170431939
微小粒子の測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
渡邊 薫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-278436
公開番号(公開出願番号):特開2009-109197
出願日: 2007年10月26日
公開日(公表日): 2009年05月21日
要約:
【課題】流路中において微小粒子の測定をするにあたり、正確な測定が可能である微小粒子の測定方法を提供すること。【解決手段】流路中を流れる微小粒子の測定方法であり、少なくとも(1)測定用流路に微小粒子を含む被測定物質を、参照用流路に1以上の参照物質を、それぞれ流しながら、前記測定用流路の所定位置で前記被測定物質の物性測定を、前記参照用流路の所定位置で前記参照物質の物性測定を、それぞれ行う工程、(2)前記被測定物質の測定結果を、前記参照物質の測定結果に基づいて処理することを少なくとも行うことで、前記被測定物質の物性情報を得る工程、とを行う微小粒子の測定方法とすること。【選択図】図1
請求項(抜粋):
流路中を流れる微小粒子の測定方法であり、少なくとも以下の(1)工程と(2)工程とを行う微小粒子の測定方法。
(1)測定用流路に微小粒子である被測定物質を、参照用流路に1以上の参照物質を、それぞれ流しながら、前記測定用流路の所定位置で前記被測定物質の物性測定を、前記参照用流路の所定位置で前記参照物質の物性測定を、それぞれ行う工程、
(2)前記被測定物質の測定結果を、前記参照物質の測定結果に基づいて処理する工程。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N15/14 C
, G01N15/14 D
, G01N21/64 F
Fターム (16件):
2G043AA03
, 2G043CA04
, 2G043CA06
, 2G043DA02
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043FA07
, 2G043GA02
, 2G043GA07
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043HA02
, 2G043JA01
, 2G043KA09
, 2G043MA11
, 2G043MA12
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (7件)
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