特許
J-GLOBAL ID：200903096329927256

3-Dレーザ計測装置

発明者：
クリストフ フレーリッヒ

クリストフ フレーリッヒ について

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マルクス メッテンライター

マルクス メッテンライター について

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マルティン ツェバント

マルティン ツェバント について


出願人/特許権者：
ツェット+エフ ツォラー ウント フレーリッヒ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

ツェット+エフ ツォラー ウント フレーリッヒ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング について


代理人 (1件)： 中村 稔 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-294230
公開番号（公開出願番号）：特開2003-177014
出願日： 2002年08月30日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
要約：
【要約】【課題】 デバイス技術に関して低廉な費用で、計測すべき対象物の三次元走査を行う3-Dレーザ計測装置を提供する。【解決手段】 開示したものは、回転軸線を中心に連続的に回転可能なミラーを有する3-Dレーザ計測装置であり、回転軸線は、例えば、光エミッターによって放射されてミラーに当たる計測ビームと平行に又は同軸に延長されている。
請求項（抜粋）：
計測ビーム、特にレーザビームを放射するエミッター(58)と、対象物によって反射されたビームを処理するための受光器(64)と、前記対象物を走査するための、前記エミッター(58)によって放射された前記計測ビームを偏向する偏向手段(26、60)と、を有し、前記偏向手段(60、26)は、射出する計測ビーム(16)を向けるための、回転自在又は回動自在に取り付けられたミラー(26)を有し、前記ミラー(26)は、該ミラー(26)に当たる前記計測ビーム(16)の軸線と平行に又は同軸の延長上の回転軸線(14)を中心に、連続的に回転可能であるように取り付けられている3-Dレーザ計測装置であって、前記エミッター(58)、前記受光器(64)及び前記偏向手段(26、60)は、前記計測ビーム(16)の前記回転軸線(14)に対して垂直に回動自在である回転の軸線(2)を中心に回転可能な計測ヘッド(4)の中に取り付けられる、ことを特徴とする3-Dレーザ計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24 ,  G01C 15/00 103 ,  G01S 7/48
FI (3件)：
G01C 15/00 103 E ,  G01S 7/48 A ,  G01B 11/24 A
Fターム (27件)：
2F065AA06 ,  2F065AA19 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065CC40 ,  2F065FF13 ,  2F065FF17 ,  2F065FF65 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL12 ,  2F065MM08 ,  2F065PP05 ,  5J084AA04 ,  5J084AA05 ,  5J084AA13 ,  5J084AD01 ,  5J084AD02 ,  5J084AD03 ,  5J084BA03 ,  5J084BA11 ,  5J084BA50 ,  5J084BB21 ,  5J084DA01 ,  5J084DA02 ,  5J084EA31
引用特許：
審査官引用 (23件)
  • トンネル内形状計測装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-064435   出願人：株式会社テクニカルシステム
  • 特開平1-180493
  • 特開平3-237303
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