特許
J-GLOBAL ID：200903096402073651

質量分析装置

発明者：
加藤 義昭

加藤 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-201279
公開番号（公開出願番号）：特開2004-342620
出願日： 2004年07月08日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：
【課題】 一台の質量分析計に複数のイオン源を装着し、イオン源の迅速な切り替えを実現することで、複数の測定を並行的に実行することが可能な装置を提供する。【解決手段】 イオン源で生成したイオンを質量分析計に導き質量分析する質量分析装置において、複数のイオン源と、当該複数のイオン源の内、少なくとも一のイオン源からのイオンを電界を発生させることによって前記質量分析計へ向かうように偏向する偏向手段を有する。【効果】 複数のイオン源を備えたLC/MS,GC/MS,プラズマイオン化MS等において、複数のイオン源を稼動させながら、質量分析を行うことが可能である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
イオン源で生成したイオンを質量分析計に導き質量分析する質量分析装置において、 複数のイオン源と、 当該複数のイオン源の内、少なくとも一のイオン源からのイオンを静電界によって前記質量分析計へ向かうように偏向する2枚の平板電極から成る静電偏向器を有し、 前記静電偏向器の質量分析計側の平板電極は、偏向されたイオンが通過する細孔を有し、 前記静電偏向器の2枚の平板電極のそれぞれは、前記質量分析計へイオンが導入される軸上で、平行となるように配置され、 前記複数のイオン源は、前記平行に配置された平板電極間にイオンを導入できる位置に配置され、 当該静電偏向器と複数のイオン源から成る配列の面は、前記質量分析計と前記静電偏向器とを結ぶ軸と、直角に交わるように配置されることを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J49/06 ,  G01N27/62 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26
FI (6件)：
H01J49/06 ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 X ,  H01J49/10 ,  H01J49/26
Fターム (8件)：
5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038GG06 ,  5C038GG07 ,  5C038GG08 ,  5C038GG09 ,  5C038GG13 ,  5C038HH02
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • 質量分析計及び質量分析方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-148977   出願人：株式会社日立製作所
  • 質量分析計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-007332   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
  • プラズマイオン源質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-226098   出願人：セイコー電子工業株式会社
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審査官引用 (7件)
  • 質量分析計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-007332   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
  • イオントラップ質量分析計を用いた分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-030027   出願人：株式会社日立製作所
  • プラズマイオン質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-271405   出願人：セイコー電子工業株式会社
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