特許
J-GLOBAL ID:200903096911226815
絶縁皮膜被覆帯状体の疵検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
青木 篤
, 鶴田 準一
, 島田 哲郎
, 伊坪 公一
, 水谷 好男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-196879
公開番号(公開出願番号):特開2008-026060
出願日: 2006年07月19日
公開日(公表日): 2008年02月07日
要約:
【課題】絶縁皮膜被覆帯状体の下層および上層の疵をそれぞれ区別して検出するに際して、従来と比べて簡略な構成により高い検出性能で検査する。【解決手段】絶縁性不透明皮膜層および絶縁性透明皮膜層からなる絶縁皮膜被覆帯状体1の表面を照明し、撮像部20で被覆帯状体1の表面を撮像して、疵を検査する。照明装置10は、絶縁性透明皮膜層の略ブリュースター角で絶縁皮膜被覆帯状体1の幅方向に亘って照明し、撮像部20は、略正反射角で反射光を撮像するもので、P偏光フィルターを介して撮像する第1の撮像装置21と、S偏光フィルターを介して撮像する第2の撮像装置22とを幅方向に配置する。さらに、第1の撮像装置21と第2の撮像装置22は、各撮像レンズの光軸を所定の距離だけ帯状体1の幅方向で互いに接近する向きにずらせて配置し、第1および第2の撮像装置21、22の撮像領域を一致させる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
下層に絶縁性不透明皮膜層、上層に絶縁性透明皮膜層がそれぞれ形成された、長手方向に移動する絶縁皮膜被覆帯状体の表面を照明装置で照明し、それぞれ撮像レンズを有する複数の撮像装置で被覆帯状体表面を撮像して、前記絶縁性不透明皮膜層および絶縁性透明皮膜層の疵を検査する疵検査装置であって、
前記照明装置は、前記絶縁性透明皮膜層のブリュースター角またはその近くの入射角度で前記絶縁皮膜被覆帯状体の幅方向に亘って照明し、
前記複数の撮像装置は、正反射角またはその近くの角度で絶縁皮膜被覆鋼板からの反射光をP偏光フィルターを介して撮像する第1の撮像装置と、正反射角またはその近くの角度で絶縁皮膜被覆鋼板からの反射光をS偏光フィルターを介して撮像する第2の撮像装置とが絶縁皮膜被覆帯状体の幅方向に配置されたものであり、
前記それぞれの撮像レンズの光軸は、受光面と直交関係を保ったまま、所定の距離Dだけ絶縁皮膜被覆帯状体の幅方向で互いに接近する向きに平行移動されており、該第1の撮像装置と第2の撮像装置が前記絶縁皮膜被覆帯状体の同一領域を撮像することを特徴とする絶縁皮膜被覆帯状体の疵検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (15件):
2G051AA37
, 2G051AB02
, 2G051AB07
, 2G051AB12
, 2G051BA11
, 2G051BB01
, 2G051BB17
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CA06
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051CC07
, 2G051DA06
, 2G051ED21
引用特許: