特許
J-GLOBAL ID:200903097091171421
ホイスラー合金膜の成膜方法及びトンネル磁気抵抗素子
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯阪 泰雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-356203
公開番号(公開出願番号):特開2006-161120
出願日: 2004年12月09日
公開日(公表日): 2006年06月22日
要約:
【課題】 ターゲットからの組成ずれを抑えられるホイスラー合金膜の成膜方法及びこのホイスラー合金膜を有するトンネル磁気抵抗素子を提供すること。【解決手段】 放電ガスとしてキセノンを用いて、Co2MnAl、Co2MnSi、CoCrAl、NiMnSb、SrLaMnO、PtMnSb、Mn2VAl、Fe2VAl、Co2FeSi、Co2MnGe、Co2FexCr(1-x)Alなどのホイスラー合金のターゲットをスパッタリングして被成膜体に成膜する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
放電ガスとしてキセノンを用いてホイスラー合金のターゲットをスパッタリングして被成膜体に成膜することを特徴とするホイスラー合金膜の成膜方法。
IPC (13件):
C23C 14/14
, C22C 19/07
, C22C 22/00
, C22C 30/00
, C22C 32/00
, C22C 38/00
, C23C 14/34
, H01F 10/32
, H01F 41/18
, H01L 43/08
, H01L 43/10
, H01L 27/105
, H01L 21/824
FI (12件):
C23C14/14 F
, C22C19/07 C
, C22C22/00
, C22C30/00
, C22C32/00 Z
, C22C38/00 303A
, C23C14/34 P
, H01F10/32
, H01F41/18
, H01L43/08 M
, H01L43/10
, H01L27/10 447
Fターム (21件):
4K029AA06
, 4K029AA24
, 4K029BA07
, 4K029BA21
, 4K029BA24
, 4K029BA25
, 4K029BA26
, 4K029BA44
, 4K029BB02
, 4K029BC06
, 4K029BD00
, 4K029CA05
, 4K029EA05
, 4K029EA08
, 4K029GA01
, 5E049AA10
, 5E049BA16
, 5E049GC02
, 5F083FZ10
, 5F083GA11
, 5F083PR22
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (8件)
全件表示
前のページに戻る