特許
J-GLOBAL ID：200903097293853664
回路測定用パッドを含む有機エレクトロルミネッセンス表示装置とその製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
渡邊 隆
, 志賀 正武
, 村山 靖彦
, 実広 信哉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-377997
公開番号（公開出願番号）：特開2006-072296
出願日： 2004年12月27日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：
【課題】 回路測定パッドと対向電極とのショートを防止して、表示装置の信頼性を改善することのできる回路測定パッド及び製造方法と、前記回路測定パッドを含む有機エレクトロルミネッセンス表示装置とその製造方法とを提供する【解決手段】 表示領域と駆動回路測定パッド領域とを具備する基板と;前記表示領域上に位置するソース/ドレーン電極と同一層に形成される前記測定パッド領域上の第1の導電膜と;前記ソース/ドレーン電極及び第1の導電膜上に位置する第1の絶縁膜と;前記第1の絶縁膜上にソース電極又はドレーン電極を露出する第1のビアホール及び前記第1の導電層を露出する第2のビアホールと;前記第1のビアホールを通じて前記ソース又はドレーン電極とコンタクトする画素電極及び前記第2のビアホールを通じて前記第1の導電膜とコンタクトする第2の導電膜と;前記画素電極を露出させて、前記第2の導電膜上に形成される画素画定膜とを含む有機エレクトロルミネッセンス表示装置を提供する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
表示領域と回路測定パッド領域とを具備する基板と;
前記表示領域上に位置するソース/ドレーン電極と同一層に形成される前記測定パッド領域上の第1の導電膜と;
前記ソース/ドレーン電極及び第1の導電膜上に位置する第1の絶縁膜と;
前記第1の絶縁膜上にソース電極又はドレーン電極を露出する第1のビアホール及び前記第1の導電層を露出する第2のビアホールと;
前記第1のビアホールを通じて前記ソース又はドレーン電極とコンタクトする画素電極及び前記第2のビアホールを通じて前記第1の導電膜とコンタクトする第2の導電膜と;
IPC (6件)：
G09F 9/30
, H01L 27/32
, H05B 33/06
, H05B 33/10
, H05B 33/12
, H01L 51/50
G09F9/30 330Z
, G09F9/30 338
, G09F9/30 365Z
, H05B33/06
, H05B33/10
, H05B33/12 Z
, H05B33/14 A
3K007AB08
, 3K007AB18
, 3K007BA06
, 3K007CC05
, 3K007DB03
, 3K007FA01
, 5C094AA31
, 5C094BA27
, 5C094DA09
, 5C094DA13
, 5C094DB01
, 5C094EA03
, 5C094FA03
, 5C094FB12
, 5C094JA08
, 5C094JA09
