特許
J-GLOBAL ID：200903097381763853

半導体試験装置用タイミング発生器

発明者：
馬場 忠彦

馬場 忠彦 について

, 
渡辺 直良

渡辺 直良 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-349265
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125660
出願日： 1997年12月18日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【課題】 周期発生部と複数の遅延発生部との間を1bit の信号ラインで接続する半導体試験装置用タイミング発生器。【解決手段】 パターン周期データでパターン周期を算出し整数データを出力する周期演算手段と、この整数データで基準クロックを遅延させる基準クロック遅延手段と、遅延されて生成した周期開始データのみを出力する周期発生部と、パターン周期データでパターン周期の端数データを算出し、周期開始データと同期を取って端数データを送出する周期演算手段と、この端数データと設定遅延データとを加算して整数データと端数データとを出力する遅延演算手段と、この整数データで基準クロックを遅延させる基準クロック遅延手段と、遅延された信号に端数データの値の遅延を与えるアナログ可変遅延手段とを有する複数の遅延発生部。
請求項（抜粋）：
周期発生部と複数の遅延発生部から構成されるタイミング発生器において、RATE設定テーブルからの端数データを含むパターン周期データを基にパターン周期を算出し算出結果の整数データを出力する周期演算手段と、上記整数データの数の基準クロックを遅延させて生成した周期開始データを出力する基準クロック遅延手段と、を有する1つの周期発生部と、上記周期開始データを遅延発生部に伝送する1bit 1本の伝送ラインと、RATE設定テーブルからの端数データを含むパターン周期データを基にパターン周期の端数データを算出し上記周期発生部から送付された周期開始データと同期を取って算出結果の端数データを送出する周期演算手段と、上記周期演算手段から伝送ラインで送られた端数データとクロック設定テーブルからの端数データを含む設定遅延データとを加算して算出結果の整数データと端数データとを出力する遅延演算手段と、上記遅延演算手段からの整数データの数の基準クロックを遅延させる基準クロック遅延手段と、上記基準クロック遅延手段からの遅延された基準クロック遅延信号に上記遅延演算手段からの端数データの値の遅延を与えてタイミング・パルスを生成するアナログ可変遅延手段と、を有する複数の遅延発生部と、を具備することを特徴とする半導体試験装置用タイミング発生器。
引用特許：
審査官引用 (4件)
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