特許

J-GLOBAL ID：200903097970636233

液体中固体表面の元素分析方法

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発明者： 作花 哲夫
出願人/特許権者： 国立大学法人京都大学
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-257784
公開番号（公開出願番号）：特開2007-071639
出願日： 2005年09月06日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：

【課題】 液体中の固体表面をその場分析する方法を提供する。 【解決手段】 液体中の固体表面に、パルス幅が30ns以上のパルスレーザを照射してレーザアブレーションさせ、該レーザアブレーションにより生成するプルームからの発光を分光分析する。一般に用いられるパルスレーザのパルス幅は20ns以下であるが、パルス幅を30ns以上に大きくすることにより、安定性、強度、持続性に優れた発光スペクトルを得ることができ、液体中の固体表面をその場分析することが可能となる。また、パルスエネルギーは数mJでも明確な線スペクトルを得ることができるため、固体表面に与えるダメージも少ない。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

液体中の固体表面の元素分析を行う方法であって、 該固体表面にパルス幅が30ns以上のパルスレーザを照射してレーザアブレーションさせ、該レーザアブレーションにより生成するプルームからの発光を分光分析する ことを特徴とする液体中固体表面の元素分析方法。

IPC (1件)：

G01N 21/63

FI (1件)：

G01N21/63 A

Fターム (5件)：

2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043CA07 ,  2G043EA10 ,  2G043JA00