スペクトル画像化装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (5件)：長谷川芳樹 , 塩田辰也 , 寺崎史朗 , 柴田昌聰 , 尾関孝彰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-149600
公開番号（公開出願番号）：特開2004-354097
出願日： 2003年05月27日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：

【課題】検出できる劣化状態を物理的な形状変化を伴うものに限定せずに、線状構造物の劣化部分を自動的に検出する。【解決手段】スペクトル画像化装置1aが電車に搭載され、電車の移動に伴ってトンネル壁を走査する。照射部2aが走査要素領域4anに検査光を照射する。走査要素領域4anで反射した反射光は結像光学系11で集光され、走査要素領域4anの像が回折格子13上に結像される。回折格子13が、走査要素領域4anの像をCCD15の撮像面15pの垂直方向にスペクトルが広がるように分光し、撮像面15p上に二次元スペクトル画像を形成する。CCD15が二次元スペクトル画像を撮像し、走査後にデータ制御・記録部21がトンネル壁のスペクトル画像を得る。劣化部分検出部23が、トンネル壁のスペクトル画像の特定の分光波長帯における分光強度からトンネル壁における劣化部分を検出する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

線状構造物の長さ方向に移動する移動体に搭載され、走査要素領域で反射した反射光を順次受光していくことにより走査して前記線状構造物の走査領域における劣化部分を検出するために用いられるスペクトル画像化装置であって、前記走査要素領域で反射した反射光を分光する分光手段と、前記走査要素領域ごとに、前記分光手段により分光された反射光の各分光波長における分光強度を含むスペクトル画像を撮像し、前記移動体の移動に伴い前記走査領域を走査することにより前記走査領域のスペクトル画像を得るスペクトル画像撮像手段と、前記スペクトル画像撮像手段が得た前記走査領域のスペクトル画像の特定の分光波長帯における分光強度から、前記走査領域における劣化部分を検出する劣化部分検出手段とを備えたことを特徴とするスペクトル画像化装置。

IPC (4件)：

G01N21/954 , E21D11/00 , G01J3/18 , G01N21/27

FI (5件)：

G01N21/954 A , E21D11/00 Z , G01J3/18 , G01N21/27 A , G01N21/27 B

Fターム (36件)：

2D055LA16 , 2G020AA03 , 2G020AA04 , 2G020BA17 , 2G020CA02 , 2G020CB24 , 2G020CC04 , 2G020CC62 , 2G020CD24 , 2G051AA82 , 2G051AB03 , 2G051AB06 , 2G051AB20 , 2G051AC17 , 2G051BA08 , 2G051BA10 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051CC09 , 2G051CC15 , 2G051EA12 , 2G051EA17 , 2G051EC03 , 2G051EC04 , 2G051EC10 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059EE12 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059GG10 , 2G059HH02 , 2G059JJ05 , 2G059KK04 , 2G059MM01

引用特許：

審査官引用 (6件)

材料の劣化度測定システムおよび測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-016667 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立ビルシステムサービス
構造物検査装置、及び、構造物検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-130579 出願人：三菱重工業株式会社
分光測定器
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-236630 出願人：ソニー株式会社

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