特許
J-GLOBAL ID：200903099243876470

半導体試験用プログラムデバッグ装置

発明者：
東 晋作

東 晋作 について

, 
福島 清

福島 清 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 雨貝 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-228487
公開番号（公開出願番号）：特開2001-051025
出願日： 1999年08月12日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：
【要約】【課題】 実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。【解決手段】 テスタエミュレート部140は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム112を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。HDLシミュレート部150は、ハードウェア記述言語によって記述されたファイルに基づいて半導体デバイスをシミュレートする。HDLシミュレート部150によってシミュレートされた半導体デバイスは、製造による欠陥を含まない被検査用半導体デバイスと全く同じように動作する理想的な半導体デバイスとなる。この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。
請求項（抜粋）：
半導体試験用プログラムに基づいて被検査用半導体デバイスに印加される試験信号を疑似的に発生して半導体試験装置の動作をエミュレートするテスタエミュレート手段と、ハードウェア記述言語に基づいて前記被検査用半導体デバイスをシミュレートし、シミュレートされた前記被検査半導体デバイスに前記テスタエミュレート手段から出力される前記試験信号を供給し、この試験信号の供給に応じて前記被検査用半導体デバイスから出力される信号をシミュレートして出力するハードウェア記述言語シミュレート手段と、前記ハードウェア記述言語シミュレート手段によってシミュレートされた前記被検査用半導体デバイスから出力される信号に基づいて前記半導体試験用プログラムのデバッグを行うデバッグ手段とを含んで構成されることを特徴とする半導体試験用プログラムデバッグ装置。
IPC (5件)：
G01R 31/28 ,  G01R 35/00 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/25 ,  G06F 11/28 340
FI (5件)：
G01R 31/28 H ,  G01R 35/00 L ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/28 340 C ,  G06F 11/26 310
Fターム (12件)：
2G032AA01 ,  2G032AA07 ,  2G032AB01 ,  2G032AC08 ,  2G032AD02 ,  2G032AE12 ,  2G032AL00 ,  5B042HH07 ,  5B048AA20 ,  5B048BB05 ,  5B048DD04 ,  5B048DD15
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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