特許
J-GLOBAL ID:200903099308827471

X線診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 堀口 浩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-262880
公開番号(公開出願番号):特開2006-075359
出願日: 2004年09月09日
公開日(公表日): 2006年03月23日
要約:
【課題】 X線撮影において、最新のオフセット補正データを用いたオフセット補正によって画像データの高画質化をはかる。【解決手段】 被検体に対する間欠的なX線撮影の非撮影期間において、オフセット補正部4のオフセット補正データ生成部42は、X線検出部3から順次供給される暗時画像データを用いてオフセット補正データの生成と更新を行ない、最新のオフセット補正データをオフセット補正データ記憶部43に保存する。一方、X線撮影の撮影期間において、画像演算部44は、オフセット補正データ記憶部43に保存されている前記オフセット補正データを読み出し、X線検出部3から供給される画像データから前記オフセット補正データを減算することによって前記画像データに対するオフセット補正を行なう。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
被検体に対しX線照射を行って画像データを生成する撮影期間とX線照射を停止する非撮影期間を組み合わせてX線撮影を行なうX線診断装置において、 前記撮影期間における前記被検体の透過X線量に基づいて蓄積された第1の電荷と前記非撮影期間において蓄積された第2の電荷を検出する複数の検出素子を有した平面検出器と、 前記第1の電荷に基づいた画像データと前記第2の電荷に基づいた暗時画像データを生成する画像データ生成手段と、 前記暗時画像データに基づいてオフセット補正データを生成するオフセット補正データ生成手段と、 このオフセット補正データ生成部が生成した複数の前記オフセット補正データのうち最新のオフセット補正データを用いて前記画像データをオフセット補正するための画像間演算を行なう画像演算手段を 備えたことを特徴とするX線診断装置。
IPC (2件):
A61B 6/00 ,  H04N 7/18
FI (2件):
A61B6/00 300S ,  H04N7/18 L
Fターム (9件):
4C093AA01 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093FC19 ,  4C093FD11 ,  5C054CA02 ,  5C054ED00 ,  5C054HA12
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (14件)
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