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J-GLOBAL ID：201002289571305693   整理番号：10A0874815

テストキューブに対する遅延テスト品質について

On Delay Test Quality for Test Cubes

著者 (9件)： OKU Shinji (Kyushu Inst. of Technol.) ,  KAJIHARA Seiji (Kyushu Inst. of Technol.) ,  KAJIHARA Seiji (JST, CREST) ,  SATO Yasuo (Kyushu Inst. of Technol.) ,  SATO Yasuo (JST, CREST) ,  MIYASE Kohei (Kyushu Inst. of Technol.) ,  MIYASE Kohei (JST, CREST) ,  WEN Xiaoqing (Kyushu Inst. of Technol.) ,  WEN Xiaoqing (JST, CREST)
資料名： IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web)  (IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web))
巻： 3  ページ： 283-291 (J-STAGE)  発行年： 2010年 
JST資料番号： U0110A  ISSN： 1882-6687  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,特定されていない値(X)をもつテストパターンであるテストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて,遅延値の算出手法を提案する.テストキューブのXに論理値を割り当てる前は,テストキューブによる各故障の検出可能な遅延値は一意に定まっていない.したがって提案手法はXに論理値を割り当てた後のテストパターンで検出可能な遅延値の範囲を算出する.提案手法を用いることにより,我々はテストキューブでカバーされるテストパターンの最低および最高のテスト品質を導出する。さらに,テストキューブから高いテスト品質をもつ十分に特定されたテストパターンを生成するようにGA(遺伝的アルゴリズム)を用いた手法を提案する.ベンチマーク回路による実験結果により提案手法の有効性を示す.(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *故障 ,  *回路試験 ,  遅延特性 ,  品質 ,  計算機シミュレーション ,  *電気故障 ,  テストパターン ,  長さ ,  論理回路 ,  計算機利用 ,  利用
準シソーラス用語： *遅延故障 ,  故障シミュレーション ,  *遷移故障 ,  ディープサブミクロン

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (14件)：

• 1) Cheng, K.-T., Dey, S., Rodgers, M. and Roy, K.: Test Challenges for Deep Sub-Micron Technologies, Design Automation Conf., pp.142-149 (June 2000).
• 2) Waicukauski, J.A., Lindbloom, E., Rosen, B.K. and Iyengar, V.S.: Transition fault simulation, <i>IEEE Design & Test of Computers</i>, pp.32-38 (April 1987).
• 3) Sato, Y., Hamada, S., Maeda, T., Takatori, A. and Kajihara, S.: Evaluation of the statistical delay quality model, ASP-DAC., pp.305-310 (2005).
• 4) Sato, Y., Hamada, S., Maeda, T., Takatori, A., Nozuyama, Y. and Kajihara, S.: Invisible delay quality - SDQM model lights up what could not be seen, Int. Test Conf., 47.1 (Nov. 2005).
• 5) Hamada, S., Maeda, T., Takatori, A., Noduyama, Y. and Sato, Y.: Recognition of sensitized longest paths in transition delay test, Int. Test Conf., Paper 11.1 (Oct. 2006).

タイトルに関連する用語 (2件)： テスト ,  遅延