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J-GLOBAL ID：201102298549876403   整理番号：11A0131713

論理回路の故障診断法-外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展-

著者 (5件)： 高松雄三 (愛媛大) ,  佐藤康夫 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D  (IEICE Transactions on Information and Systems (Japanese Edition))
巻： J94-D  号： 1  ページ： 266-279  発行年： 2011年01月01日 
JST資料番号： S0757C  ISSN： 1880-4535  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIの微細化技術の進展並びに高集積化・高速化に伴い,論理回路の故障診断は,(1)故障原因を調べてテストへフィードバックすることでLSIの品質を向上させること,(2)製造プロセスの歩留りを決めるプロセスの欠陥や設計の不具合を調べ,その対策を施すことで製造歩留りを向上させること,などの手段として近年その重要性を増している。そこで,本論文では,論理回路の故障診断法について概説する。まず,故障診断法の基本概念として,故障モデル及び故障診断法の基本的な方法である原因-結果分析法と結果-原因分析法を簡単に説明する。次に,複雑な故障に対応する故障診断技術の発展の観点から,論理回路の故障診断法を「論理故障ベース診断法」と「欠陥ベース診断法」に分類し,それらの概要を述べる。本論文では,単一縮退故障,多重縮退故障,ブリッジ故障,オープン故障及びX故障に対してこれまで開発されている論理故障ベース診断法をそれぞれ概説する。また,ブリッジ故障,オープン故障及びセル内故障に対してこれまで開発されている欠陥ベース診断法をそれぞれ概説する。(著者抄録)

シソーラス用語： *論理回路 ,  *故障診断 ,  超LSI ,  モデル ,  故障解析 ,  欠陥 ,  切断 ,  電気故障 ,  短絡【電気】 ,  縮退故障 ,  文献展望 ,  技術展望 ,  回路試験
準シソーラス用語： 故障モデル ,  オープン故障 ,  ブリッジ故障

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (75件)：

• E. Manning, H.Y.Chang, and G. Metze, Fault Diagnosis of Digital Systems, John Wiley & Sons, 1970.
• L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Adchitectures Design for Testability, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
• D. Lavo, T. Larrabee, F. Ferguson, B. Chess, J. Saxena, and K. Butler,“Byond the byzantine generals: Unexpected behavior and bridging fault diagnosis,” Proc. Int. Test Conf., pp. 611-619, 1996.
• B. Chess, D. B. Lavo, F. J. Ferguson, and T. Larrabee,“Diagnosis of realistic bridging faults with single stuck-at information,” Dig. Int. Conf. on ComputerAided Design, pp. 185-193, 1995.
• J. Wu and E. M. Rudnick,“Bridge fault diagnosis using stuck-at fault simulation,” IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst., vol.19, no.4, pp. 489-495, 2000.

タイトルに関連する用語 (6件)： 論理回路 ,  故障診断 ,  応答 ,  故障 ,  箇所 ,  発展