FUJISAWA Takafumi について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
ABE Kenichi について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
WATABE Shunichi について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
MIYAMOTO Naoto について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
TERAMOTO Akinobu について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
SUGAWA Shigetoshi について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
OHMI Tadahiro について
Tohoku Univ., Sendai, JPN について
Japanese Journal of Applied Physics について
アレイ について
試験 について
テストパターン について
ランダム信号 について
時定数 について
振幅 について
雑音 について
電流 について
電圧 について
スイッチング について
ケイ素 について
ゲート【半導体】 について
界面 について
捕獲中心 について
キャリア捕獲 について
粒子放出 について
絶縁膜 について
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エネルギー準位 について
集合 について
電圧依存性 について
キャリア放出 について
データセット について
ドレイン電流 について
バイアス電圧 について
閾値電圧 について
半導体の格子欠陥 について
雑音一般 について
大規模 について
アレイ について
テストパターン について
電信 について
時定数 について
振幅 について
分析 について