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J-GLOBAL ID:201002295320265188   整理番号:10A1534696

H2O雰囲気での反応性スパッタリングによって作られたNiオキシ水酸化物薄膜のエレクトロクロミック特性に関するスパッタリングガス圧力の効果

Effects of Sputtering Gas Pressure on Electrochromic Properties of Ni Oxyhydroxide Thin Films Prepared by Reactive Sputtering in H2O Atmosphere
著者 (6件):
資料名:
巻: 49  号: 11  ページ: 115802.1-115802.4  発行年: 2010年11月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Niオキシ水酸化物(NiOOH)薄膜がH2O気体での反応性スパッタリングによって作られ,そしてKOHでのエレクトロクロミック特性に関するスパッタリングガス圧力の効果が研究された。最も大きな光学密度変化は,NiOOHに近い低い薄膜密度と化学組成のために,約6.7Paの高いスパッタリングガス圧力のもとで蒸着された薄膜に対して得られた。着色と漂白サイクルの間の安定な透過率変化が最初のサイクルから100サイクルまで膜に対して得られた。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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スパッタリング  ,  その他の無機化合物の薄膜 
引用文献 (23件):
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