特許
J-GLOBAL ID：201003000348938440
遅延時間測定回路及び遅延時間測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
村山 靖彦
, 志賀 正武
, 渡邊 隆
, 実広 信哉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-512090
公開番号（公開出願番号）：特表2010-529476
出願日： 2008年06月17日
公開日（公表日）： 2010年08月26日
要約：
遅延時間測定回路及び遅延時間測定方法を提供する。本発明による遅延時間測定回路及び遅延時間測定方法は、フィードバック構造を有するディレイチェーンを備えて測定できる遅延時間が限定されない。また、ディレイチェーンを構成する遅延素子の数を低減することができるため、小さいレイアウト面積で実現することができる。本発明によることを特徴とする遅延時間測定回路は、ディレイチェーン部と、コード発生部と、デコーダ部と、を備える。
請求項（抜粋）：
遅延時間測定開始を示す基準信号または帰還信号のうち1つを選択して入力信号として印加し、複数個の従属接続された遅延素子を備えて前記入力信号を遅延させ、遅延された入力信号を反転して反転された信号を前記帰還信号として出力し、前記反転された信号の帰還繰り返し回数をカウンティングして繰り返しカウンティング信号を出力するディレイチェーン部と、
前記基準信号に対する測定信号の遅延時間を測定するために前記入力信号と前記複数個の遅延素子のうちの最後の遅延素子を除去した残りの遅延素子から印加される複数個の遅延信号をそれぞれ比べてコード信号を発生するコード発生部と、
前記コード信号と前記繰り返しカウンティング信号をデコーディングして遅延測定値を出力するデコーダ部と、
を備えることを特徴とする遅延時間測定回路。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G132AA00
, 2G132AD07
, 2G132AG08
, 2G132AH00
, 2G132AL11
