特許
J-GLOBAL ID：201003002740708553

誤動作発生攻撃検出回路および集積回路

発明者：
信方 浩美

信方 浩美 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-132544
公開番号（公開出願番号）：特開2010-279003
出願日： 2009年06月01日
公開日（公表日）： 2010年12月09日
要約：
【課題】レーザ照射により、暗号回路やCPU等のセキュリティLSIの構成要素の回路で、誤動作が発生する前に、確実にレーザ照射を検知して、DFA,FIA攻撃を回避することが可能な誤動作発生攻撃検出回路および集積回路を提供する。【解決手段】光の照射を検知可能な少なくとも1つのセンサ回路110Dと、センサ回路110の出力により中間電圧を検出し検出信号SFIAを出力する検出回路120Eと、を有し、センサ回路110Dは、出力ノードから所定レベルの信号を出力するように形成され、光照射によって変化する出力ノードのレベルに応じた信号を出力し、検出回路120Eは、センサ回路の出力信号レベルがあらかじめ設定したレベルに達すると検出信号を出力する。【選択図】図23
請求項（抜粋）：
光の照射を検知可能な少なくとも1つのセンサ回路と、 上記センサ回路の出力により、ハイレベルに相当する電圧とローレベルに相当する電圧との間の中間電圧を検出し検出信号を出力する検出回路と、を有し、 上記センサ回路は、 出力ノードのレベルが光照射によって変化し、光照射によって変化する上記出力ノードのレベルに応じた信号を出力し、 上記検出回路は、 上記センサ回路の出力信号レベルがあらかじめ設定したレベルに達すると上記検出信号を出力する 誤動作発生攻撃検出回路。
IPC (3件)：
H04L 9/10 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04
FI (2件)：
H04L9/00 621Z ,  H01L27/04 H
Fターム (17件)：
5F038AV04 ,  5F038AV14 ,  5F038AZ07 ,  5F038BH19 ,  5F038DF01 ,  5F038DF05 ,  5F038DF10 ,  5F038DT11 ,  5F038DT12 ,  5F038EZ20 ,  5J104AA32 ,  5J104AA41 ,  5J104AA44 ,  5J104EA04 ,  5J104NA02 ,  5J104NA37 ,  5J104NA42
引用特許：
審査官引用 (5件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)
  • “平成15年度セキュリティ評価技術等に関する調査研究 「システムLSIのセキュリティ評価」に関する調, 20040331, p.7-14

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