特許
J-GLOBAL ID：201003002826294867

光立体構造像装置及びその光信号処理方法

発明者：
寺村 友一

寺村 友一 について

, 
広田 和弘

広田 和弘 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-314837
公開番号（公開出願番号）：特開2010-139327
出願日： 2008年12月10日
公開日（公表日）： 2010年06月24日
要約：
【課題】測定光を走査して測定対象に照射し測定対象からの光を入射する光学系を大型化することなく、測定光とは異なる波長帯域の光による画像情報を高解像度で取得し、かつ該画像情報を測定対象の光立体構造像の表面情報に高精度にて対応させる。【解決手段】プローブ40では、ファイバFB1、FB2の出射端のコリメートレンズ451、452からの2本の平行なコリメートビームは、ひとつの集光レンズ460に入射し、次に偏向回転ミラー470で反射され、同一の点に集光されて測定対象Tに照射される。偏向回転ミラー470は、モータ480により回転し、それにより測定光L1、及び可視光Laの集光点が走査される。プローブ40のファイバFB1、FBは、可視光La及び測定光L1が測定対象Tに照射されたときの測定対象Tからのそれぞれの戻り光L4、L3を導光する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
第1の波長帯域の光を発する第1波長域光源と、 前記第1の波長帯域の光を測定光と参照光に分離する光分離手段と、 前記測定光を導波する第1の導波手段と、 前記第1の導波手段を導波した前記測定光を測定対象に照射する照射手段と、 前記測定対象上の点からの前記測定光に基づく光を前記第1の導波手段に集光する第1の集光手段と、 前記第1の導波手段を導波した前記測定対象上の前記点からの前記測定光に基づく光と前記参照光との干渉情報を検出する干渉情報検出手段と、 前記測定対象上の前記点からの前記第1の波長帯域とは異なる第2の波長帯域の光を集光する第2の集光手段と、 前記第2の集光手段が集光した前記第2の波長帯域の光を導波する第2の導波手段と、 前記第2の導波手段を導波した前記第2の波長帯域の光を受光し受光信号を取得する受光手段と、 前記第1の集光手段及び前記第2の集光手段により集光する前記測定対象上の前記点を走査する走査手段と、 を備えたことを特徴とする光立体構造像装置。
IPC (5件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/27 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/65
FI (5件)：
G01N21/17 625 ,  G01N21/27 A ,  A61B10/00 E ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/65
Fターム (41件)：
2G043AA03 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043NA06 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE09 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • 光断層画像化装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-311286   出願人：富士フイルム株式会社
  • 内視鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-196205   出願人：旭光学工業株式会社
  • 歯科光診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-142677   出願人：株式会社モリタ東京製作所
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審査官引用 (6件)
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