特許
J-GLOBAL ID:201003006950813908
粒子状物質検出装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (5件):
渡邉 一平
, 木川 幸治
, 菅野 重慶
, 佐藤 博幸
, 小池 成
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-016412
公開番号(公開出願番号):特開2010-032488
出願日: 2009年01月28日
公開日(公表日): 2010年02月12日
要約:
【課題】粒子状物質の検出を簡易に行えて低廉であり、測定精度が高い粒子状物質検出装置を提供する。【解決手段】一の面が電極間誘電体4で被覆をされた板状を呈する一の電極1、その一の電極1の一の面の側に粒子状物質11を含む気体が流れる空間を介して配設をされ一の電極1との間に印加をされる電圧によって放電をする二の電極2、及び電圧の印加をする集塵用電源9、並びに、電極間誘電体4の表面に対向して配設をされた一対の測定電極5,15、その一対の測定電極5,15の間における電気的特性の測定をする特性測定手段3、及びその特性測定手段3で測定をされた電気的特性の変化量に基づいて電極間誘電体4の表面に集塵をされた粒子状物質11の量を求める粒子状物質量算出手段13、を備える粒子状物質検出装置100。【選択図】図1
請求項(抜粋):
一の面が誘電体で被覆をされた板状を呈する一の電極、その一の電極の一の面の側に粒子状物質を含む気体が流れる空間を介して配設をされ一の電極との間に印加をされる電圧によって電界の形成及び放電の何れか又は両方を行う二の電極、及び前記電圧の印加をする電源、並びに、
前記誘電体の表面に対向して配設をされた一対の測定電極、その一対の測定電極の間における電気的特性の測定をする特性測定手段、及びその特性測定手段で測定をされた電気的特性の変化量に基づいて前記誘電体の表面に集塵をされた粒子状物質の量を求める粒子状物質量算出手段、
を備える粒子状物質検出装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N15/06 D
, G01N27/00 Z
Fターム (10件):
2G060AA01
, 2G060AD00
, 2G060AE20
, 2G060AF06
, 2G060AF07
, 2G060AF10
, 2G060AG06
, 2G060AG08
, 2G060AG10
, 2G060AG15
引用特許:
出願人引用 (10件)
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特開昭63-286753
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粒子状物質測定方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-322133
出願人:株式会社堀場製作所
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検知装置及び方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-289654
出願人:本田技研工業株式会社
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粒子センサに対するセンサ素子および該センサ素子を作動する方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願2007-530688
出願人:ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
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特開昭60-001546
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特開昭60-123761
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粒子状物質検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-176080
出願人:日本碍子株式会社, 本田技研工業株式会社
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粒子状物質検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-176082
出願人:日本碍子株式会社, 本田技研工業株式会社
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粒子状物質検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-126387
出願人:日本碍子株式会社, 本田技研工業株式会社
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粒子状物質検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-025494
出願人:日本碍子株式会社, 本田技研工業株式会社
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