特許
J-GLOBAL ID：201003010905935528
超音波の音圧強度分布の測定方法、超音波のエネルギー密度分布を測定する方法およびそれらの測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-122371
公開番号（公開出願番号）：特開2010-002415
出願日： 2009年05月20日
公開日（公表日）： 2010年01月07日
要約：
【課題】超音波による音圧強度分布を正確に測定することができる音圧強度分布の測定方法を提供する。【解決手段】本発明に係る超音波の音圧強度分布の測定方法は、超音波による音圧強度分布を測定する方法であって、応力発光粒子を分散させた基材4に超音波を照射して、該超音波のエネルギーによって当該応力発光粒子が発する光強度及びその分布のうち少なくとも一方を測定することにより、超音波による音圧強度分布を正確に測定することができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
超音波による音圧強度分布を測定する方法であって、
応力発光粒子を分散させた基材に超音波を照射して、上記超音波のエネルギーによって当該応力発光粒子が発する光強度及びその分布のうち少なくとも一方を測定することを特徴とする測定方法。
IPC (3件)：
G01H 9/00
, G01H 17/00
, G01N 21/78
G01H9/00 Z
, G01H17/00 C
, G01N21/78 C
2G054CE10
, 2G054FA06
, 2G054FA15
, 2G054FB03
, 2G064AB18
, 2G064BA02
, 2G064BC02
