特許
J-GLOBAL ID：201003029193268018

測定装置および測定方法

発明者：
金井 敏彦

金井 敏彦 について

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満木 秀彦

満木 秀彦 について

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伴 和浩

伴 和浩 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-174124
公開番号（公開出願番号）：特開2010-014508
出願日： 2008年07月03日
公開日（公表日）： 2010年01月21日
要約：
【課題】作業効率を向上し得る測定装置を提供する。【解決手段】回路基板100の導体パターン101a,101bと第1プローブ11a,11bおよび第2プローブ12a,12bとの接触状態が良好と判別したときに、導体パターン101a,101bに測定用電流Itを供給している状態における第2プローブ12a,12b間の電圧Vmと測定用電流Itとに基づく所定の物理量を測定する制御部17と、第2プローブ12a,12b同士の接断を行うスキャナユニット16とを備え、制御部17は、スキャナユニット16を制御して第2プローブ12a,12b同士を接続させた後に、第1プローブ11a,11bに測定用電流Itを供給している状態における第1プローブ11a,11b間の電圧Vmと測定用電流Itとに基づいて接触状態の良否を判別する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象体における一対の被接触部にそれぞれ接触させた一対の第1プローブおよび当該各被接触部にそれぞれ接触させた一対の第2プローブと当該各被接触部との接触状態の良否を判別する接触状態検査を実行すると共に、前記各第1プローブに測定用電流を供給している状態における前記各第2プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づく所定の物理量の測定を前記接触状態が良好と判別したときに実行する制御部を備えた測定装置であって、 前記各第2プローブ同士の接断を行う接断部を備え、 前記制御部は、前記接触状態検査の実行時において、前記接断部を制御して前記各第2プローブ同士を接続させた後に、前記各第1プローブに前記測定用電流を供給している状態における当該各第1プローブ間の電圧と当該測定用電流とに基づいて前記接触状態の良否を判別する測定装置。
IPC (2件)：
G01R 27/02 ,  G01R 31/02
FI (2件)：
G01R27/02 R ,  G01R31/02
Fターム (9件)：
2G014AA03 ,  2G014AA13 ,  2G014AA14 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10 ,  2G028AA02 ,  2G028CG02 ,  2G028CG07 ,  2G028HN11
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)
  • 測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-223815   出願人：日置電機株式会社

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