特許
J-GLOBAL ID：201003046676539537

電子機器、AD変換装置、AD変換方法

発明者：
工藤 成貴

工藤 成貴 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-044532
公開番号（公開出願番号）：特開2010-259051
出願日： 2010年03月01日
公開日（公表日）： 2010年11月11日
要約：
【課題】参照信号比較型AD変換を採用する固体撮像装置において、ゲインアップのP相処理時にリセットレベルがAD変換レンジ外となる現象を防止する。【解決手段】参照信号SLP_ADC の傾きをAD変換ゲインに応じて次のように設定する。1倍時はP相の傾きΔSLP_P とD相の傾きΔSLP_D を同一にする。ゲインk倍時は、D相・P相とも、1クロック当たりの変化率ΔSLP を1/kにする。ゲインk倍時のD相は、傾きΔSLP_D が1倍時の1/kになり、カウンタ部を1倍時と同じ周波数で駆動してゲインk倍にする。ゲインk倍時のP相はDA変換部をk倍の周波数で駆動してP相の傾きΔSLP_P を1倍時と同じにしてP相レンジを1時と同じに維持し、カウンタ部をk倍の周波数で駆動してゲインk倍にする。P相計数期間Trmが同じでも各ゲインのP相レンジが大きくなりリセットレベルのレンジ外れに対して耐性が増す。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
レベルが漸次変化する参照信号を生成する参照信号生成部から前記参照信号の供給を受けて、当該参照信号とアナログの処理対象信号を比較する比較部およびAD変換用のカウントクロックの供給を受けて前記比較部の比較結果に基づきカウント動作を行なうカウンタ部を有し、前記カウンタ部の出力データに基づき前記処理対象信号のデジタルデータを取得するAD変換部と、 前記比較部の比較結果に基づき各処理期間における前記カウンタ部の動作期間を制御するカウント動作期間制御部と、 前記参照信号生成部および前記AD変換部を制御する駆動制御部と、 を備え、 前記駆動制御部は、 差分処理に供される基準側を対象とする処理期間における単位時間当たりの前記参照信号の傾きが、差分処理で取得される差分を含む側を対象とする処理期間における単位時間当たりの前記参照信号の傾きよりも大きくなるように前記参照信号生成部を制御する 電子機器。
IPC (2件)：
H04N 5/335 ,  H03M 1/56
FI (3件)：
H04N5/335 Z ,  H04N5/335 E ,  H03M1/56
Fターム (7件)：
5C024AX01 ,  5C024CX43 ,  5C024GY31 ,  5C024HX23 ,  5C024HX32 ,  5J022AA02 ,  5J022CB08
引用特許：
審査官引用 (6件)
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