特許
J-GLOBAL ID:201003053864008561
光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長尾 達也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-331805
公開番号(公開出願番号):特開2010-151704
出願日: 2008年12月26日
公開日(公表日): 2010年07月08日
要約:
【課題】被検査物の所定の部位における測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供する。【解決手段】光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、 前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、 前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、 前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、 前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、を有する構成とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、
前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
IPC (4件):
G01N 21/17
, A61B 3/12
, A61B 10/00
, G01B 11/24
FI (4件):
G01N21/17 630
, A61B3/12 E
, A61B10/00 E
, G01B11/24 D
Fターム (45件):
2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC16
, 2F065DD03
, 2F065FF04
, 2F065FF52
, 2F065GG02
, 2F065GG07
, 2F065GG12
, 2F065GG17
, 2F065GG22
, 2F065HH03
, 2F065HH13
, 2F065JJ02
, 2F065JJ03
, 2F065JJ25
, 2F065JJ26
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065LL20
, 2F065LL28
, 2F065LL32
, 2F065LL42
, 2F065LL62
, 2F065MM16
, 2F065MM26
, 2F065QQ03
, 2F065QQ16
, 2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE17
, 2G059FF02
, 2G059GG02
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
光断層画像化方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-288658
出願人:富士フイルム株式会社
審査官引用 (6件)
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