特許
J-GLOBAL ID：201003064286088290
絶縁抵抗検出装置および絶縁抵抗検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-170774
公開番号（公開出願番号）：特開2010-008356
出願日： 2008年06月30日
公開日（公表日）： 2010年01月14日
要約：
【課題】高電圧回路の電圧変動の影響を受けずに絶縁抵抗低下の判定を行うことができ、且つ絶縁低下が発生してからそれを検出するまでの時間を最適化することができる絶縁抵抗検出装置および絶縁抵抗検出方法を提供することである。【解決手段】車体40と高電圧回路2との絶縁抵抗13を検出する絶縁抵抗検出装置1において、電位検出手段によって検出した電位の振幅の移動平均値を算出する移動平均手段と、移動平均手段によって算出した移動平均値が、所定値以下である場合に車体40と高電圧回路2との間の絶縁低下であると判定する絶縁判定手段とを備え、ECU7により実現される移動平均手段が、移動平均値を求める移動平均処理のサンプルを取得する時間を変更するサンプル取得時間変更手段を有することを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
車体と高電圧回路との絶縁抵抗を検出する絶縁抵抗検出装置において、
所定の周波数信号を出力する発振回路と、一方の端子を前記高電圧回路に接続されるカップリングコンデンサと、前記カップリングコンデンサの他方の端子と前記発振回路との間に接続される検出抵抗と、前記カップリングコンデンサと前記検出抵抗との間の電位を検出する電位検出手段と、前記電位検出手段によって検出した電位の振幅の移動平均値を算出する移動平均手段と、前記移動平均手段によって算出した移動平均値が、所定値以下である場合に前記車体と前記高電圧回路との間の絶縁低下であると判定する絶縁判定手段とを備え、
前記移動平均手段が、前記移動平均値を求める移動平均処理のサンプルを取得する時間を変更するサンプル取得時間変更手段を有する
ことを特徴とする絶縁抵抗検出装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
2G014AA17
, 2G014AB24
, 2G014AC19
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (5件)
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