特許
J-GLOBAL ID:201003074500711353

窒化ホウ素膜及びその成膜方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉井 剛 ,  吉井 雅栄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-006764
公開番号(公開出願番号):特開2010-185138
出願日: 2010年01月15日
公開日(公表日): 2010年08月26日
要約:
【課題】スパッタリング法やアークイオンプレーティング法等のPVD法を用いた場合でも密着性が良好でc-BNを高い割合で有する極めて実用性に秀れた窒化ホウ素膜の提供。【解決手段】基材に、不活性ガスを含む雰囲気中でホウ素を含むターゲット材料を用いた物理蒸着法でc-BNの含有率が50%以上である窒化ホウ素膜を成膜する際、少なくともArとHeの2種が混合された混合ガス雰囲気中で成膜を行う。【選択図】なし
請求項(抜粋):
c-BNの含有率が50%以上である窒化ホウ素膜であって、膜中に0.5〜20.0mol%のHeを含有することを特徴とする窒化ホウ素膜。
IPC (2件):
C23C 14/06 ,  C23C 14/34
FI (2件):
C23C14/06 J ,  C23C14/34 R
Fターム (6件):
4K029AA06 ,  4K029AA24 ,  4K029BA59 ,  4K029CA05 ,  4K029DA08 ,  4K029DC05
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)
  • 特表平6-509609
  • 磁気記録媒体の製造方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-316519   出願人:ソニー株式会社
  • 特表平6-509609

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