特許

J-GLOBAL ID：201003076056178247

自動分析装置

発明者： 圷 正志 ,  松原 茂樹 ,  高木 由充 ,  時枝 仁
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-328998
公開番号（公開出願番号）：特開2010-151569
出願日： 2008年12月25日
公開日（公表日）： 2010年07月08日
要約：

【課題】 分析中の検体に生じた追加検査依頼項目や、検体に生じた検体の異常に対して、迅速に処理を施すことが可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】 装置内に定常的に使用する検体の取り出し、投入ポジションとは別な、専用の取り出し、投入ポジションを設け、追加依頼された検体、分析中に検体に異常が生じた検体を排出する。排出された検体に対して、何らかの処置を施し、再投入することで、分析途中の状態を継続可能にする。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

検体を分析する分析ユニットと、前記検体を複数保持する検体容器を載置する検体ラックを前記分析ユニットに搬送するラック搬送装置と、前記ラック搬送装置に検体ラックを供給するラック投入部と、前記ラック搬送装置から検体ラックを回収するラック回収部と、前記ラックを保持するバッファ装置と、を備えた自動分析装置において、 前記バッファ装置に検体ラックを直接投入または、回収することが可能なラック設置位置を備えたことを特徴とする自動分析装置。

IPC (2件)：

G01N 35/02 ,  G01N 35/04

FI (3件)：

G01N35/02 G ,  G01N35/02 J ,  G01N35/04 H

Fターム (10件)：

2G058AA07 ,  2G058AA08 ,  2G058CB09 ,  2G058CB15 ,  2G058GC02 ,  2G058GC05 ,  2G058GC06 ,  2G058GE03 ,  2G058GE05 ,  2G058HA04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 自動分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-180741   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
• 自動分析装置および検体処理システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-331312   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

審査官引用 (4件)

• 特開平3-183957
  
• 自動分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-274611   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
• 検体前処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-274522   出願人：アロカ株式会社
• 検体検査自動化システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-241579   出願人：株式会社日立製作所