特許
J-GLOBAL ID：201003092558110277

スラブ表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置

発明者：
楠本 義治

楠本 義治 について

, 
戸村 寧男

戸村 寧男 について


出願人/特許権者：
JFEスチール株式会社

JFEスチール株式会社 について


代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-291550
公開番号（公開出願番号）：特開2010-117280
出願日： 2008年11月13日
公開日（公表日）： 2010年05月27日
要約：
【課題】スラブに発生したブローホールや割れ等の表面欠陥を精度よく検出することのできるスラブ表面欠陥検出方法を提供する。【解決手段】スラブ6の幅方向に配列された複数のレーザ投光器7a,7bからスラブ6の表面にレーザ光8を照射して計測したスラブ表面の凹凸状態のデータからスラブ6に発生した表面欠陥を検出するスラブ表面欠陥検出方法であって、凹凸状態のデータが欠値となるスラブ表面のレーザ光非反射位置をレーザ光非反射位置抽出回路11により抽出し、レーザ光非反射位置抽出回路11により抽出されたレーザ光非反射位置がスラブ6の幅方向または長手方向に複数連続して存在するときに判定装置12によりレーザ光非反射位置を表面欠陥の発生位置と判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
スラブの表面にレーザ光を照射して計測したスラブ表面の凹凸状態のデータから前記スラブに発生した表面欠陥を検出するスラブ表面欠陥検出方法であって、 前記凹凸状態のデータが欠値となるスラブ表面のレーザ光非反射位置を抽出し、抽出されたレーザ光非反射位置が前記スラブの幅方向または長手方向に複数連続して存在するときに前記レーザ光非反射位置を表面欠陥の発生位置と判定することを特徴とするスラブ表面欠陥検出方法。
IPC (1件)：
G01N 21/892
FI (1件)：
G01N21/892 B
Fターム (11件)：
2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051BA02 ,  2G051BA10 ,  2G051BB03 ,  2G051CA01 ,  2G051CB01 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01
引用特許：
出願人引用 (15件)
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審査官引用 (15件)
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