特許
J-GLOBAL ID:201103005272443128
波形取得方法及びこの方法を用いて動作する波形取得装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
中尾 直樹
, 中村 幸雄
, 草野 卓
, 稲垣 稔
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-200247
公開番号(公開出願番号):特開2001-027651
特許番号:特許第4488553号
出願日: 1999年07月14日
公開日(公表日): 2001年01月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】 正または負の任意の電圧値を持つオフセット電圧に重畳したアナログ信号を入力増幅器を通じて取り込む波形取得方法において、
正側及び負側の電源電圧のそれぞれに上記オフセット電圧に対応した電圧を加算した電源電圧を上記入力増幅器に与え、上記入力増幅器の動作範囲の中心を上記オフセット電圧に近づけて上記アナログ信号を取得し、
上記入力増幅器の出力側にアナログ減算器を設け、このアナログ減算器により上記入力増幅器を通じて取得した入力信号に重畳するオフセット電圧を除去することを特徴とする波形取得方法。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (7件)
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特開昭62-207963
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特開平2-045767
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A/D変換回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-314025
出願人:日本電気株式会社
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審査官引用 (8件)
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オフセット電圧を加減算するICテスタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-103691
出願人:安藤電気株式会社
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A/D変換回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-314025
出願人:日本電気株式会社
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ICテストシステム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-269413
出願人:山形日本電気株式会社
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特開平2-045767
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タイミング・アナライザ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-275565
出願人:テクトロニクス・インコーポレイテッド
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特開平2-045767
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半導体試験装置の比較器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-028552
出願人:株式会社アドバンテスト
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特開昭62-207963
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