特許
J-GLOBAL ID:201103012906585822

イオントラップ型質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-178165
公開番号(公開出願番号):特開2002-373617
特許番号:特許第3575441号
出願日: 2001年06月13日
公開日(公表日): 2002年12月26日
請求項(抜粋):
【請求項1】環状のリング電極と、該リング電極を挟むように配設された一対の入口側及び出口側エンドキャップ電極とでイオントラップを形成し、外部で発生したイオンを前記入口側エンドキャップ電極に設けた入射開口を通して前記イオントラップに導入するイオントラップ型質量分析装置に於いて、イオンを前記イオントラップに導入する際に、該イオントラップの内部空間に、前記入射開口側が凹となる形状に湾曲した等電位面を有する静電場を形成するように、前記リング電極、並びに、前記入口側及び出口側エンドキャップ電極にそれぞれ所定の電圧を印加する電圧制御手段を備えることを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。
IPC (2件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (3件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 E ,  G01N 27/62 L
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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