特許
J-GLOBAL ID:201103017130274181
試料捕捉合金、質量分析装置、質量分析方法、試料捕捉方法、試料捕捉合金、試料捕捉合金製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
立石 琢也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-171507
公開番号(公開出願番号):特開2011-027477
出願日: 2009年07月22日
公開日(公表日): 2011年02月10日
要約:
【課題】 試料を高い効率で捕捉できる試料捕捉合金などを提供する。【解決手段】 本発明のあるの側面は、表面が修飾され、Fe、Pt及びCuを含有し、試料を捕捉することを特徴とする試料捕捉合金にある。本構成によれば、試料を高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。本発明の他の側面は、表面が修飾されることで電荷が付与されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金にある。本構成によれば、電荷により試料をより高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。本発明のさらに他の側面は、チオール基で表面修飾されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金にある。本構成によれば、チオール基で表面修飾されていることからさらに他の置換基の導入が容易な試料捕捉合金が得られる。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
表面が修飾され、
Fe、Pt及びCuを含有し、
試料を捕捉することを特徴とする試料捕捉合金。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (8件):
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041DA04
, 2G041EA01
, 2G041FA12
, 2G041GA16
, 2G041JA06
, 2G041JA08
引用特許:
引用文献:
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