特許
J-GLOBAL ID:201103022607837381
担体基材から層又は層系を分離し、かつ別の担体に続けて施与する方法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
矢野 敏雄
, 山崎 利臣
, 久野 琢也
, ラインハルト・アインゼル
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-015476
公開番号(公開出願番号):特開平11-265876
特許番号:特許第4351319号
出願日: 1999年01月25日
公開日(公表日): 1999年09月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】 担体基材から層又は層系を分離し、かつ別の担体に続けて施与する方法において、
a)フッ化水素酸中での陽極処理により、担体基材(1)上に多孔性破断層(2)を生じさせ、破断層(2)を部分的な酸化により安定化し、かつ、部分的な酸化の後に、気体状のHFと酸化生成物との非湿式化学的反応を実施し、
b)場合により予め、破断層(2)上に破断層(2)よりも低い多孔率を有する安定化層(3)を生じさせ、
c)HFとの短時間の接触により、層(2)又は(3)の酸化物を溶かし、
d)層(2)又は(3)の上に、エピタキシャル層(4)を施与し、
e)破断層(2)を破断することにより、エピタキシャル層(4)又は安定化層(3)及びエピタキシャル層(4)を担体基材(1)から分離し、
f)エピタキシャル層(4)又は安定化層(3)及びエピタキシャル層(4)を別の担体上に施与し、かつ
g)場合により、安定化層(3)及び/又は残りの破断層(2)をエピタキシャル層(4)から溶かすことを特徴とする、担体基材から層又は層系を分離し、かつ別の担体に続けて施与する方法。
IPC (2件):
H01L 21/306 ( 200 6.01)
, H01L 21/3063 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 21/306 B
, H01L 21/306 L
引用特許: