特許
J-GLOBAL ID:201103026476707962

プリント基板とこのプリント基板の測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-069761
公開番号(公開出願番号):特開2000-269610
特許番号:特許第3791233号
出願日: 1999年03月16日
公開日(公表日): 2000年09月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 プリントパターンでインダクタンスが形成された高周波回路を有する子プリント基板と、この子プリント基板が複数個連結して一体成形された親プリント基板とから成り、この親プリント基板の前記子プリント基板の不形成部に前記子プリント基板に形成された前記インダクタンスの値と相関関係を有する基準パターンを設け、前記基準パターンのインダクタンスの値は、前記子プリント基板に形成されたインダクタンスの値よりも数倍から数十倍大きい値としたプリント基板。
IPC (2件):
H05K 1/02 ( 200 6.01) ,  H05K 3/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
H05K 1/02 J ,  H05K 3/00 T
引用特許:
審査官引用 (4件)
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