特許
J-GLOBAL ID:201103029622539227

試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 龍華 明裕
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-282175
公開番号(公開出願番号):特開2001-099894
特許番号:特許第4119060号
出願日: 1999年10月01日
公開日(公表日): 2001年04月13日
請求項(抜粋):
【請求項1】 電気部品を試験する試験装置に設けられ前記電気部品の入出力ピンに信号を入出力するピンエレクトロニクスにおいて、 電流を出力する電流源と、 電圧を生成する第1の電圧生成部と、 前記電流源と、前記第1の電圧生成部と、前記電気部品の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記電流を前記電気部品に与えると共に、前記電圧を前記電気部品に与えるダイオードブリッジと、 を備え、 前記第1の電圧生成部は、当該第1の電圧生成部から前記ダイオードブリッジに入力される電流を測定する電流測定部を有し、 前記電流源は、前記電流を前記ダイオードブリッジへ出力する第1の電流源及び前記ダイオードブリッジから前記電流を入力する第2の電流源を有し、 前記入出力ピンに所定の電圧を印加して、前記電気部品に入力される電流を測定する場合に、前記第1の電流源に所定の電流を出力させ、前記第2の電流源に前記所定の電流を前記ダイオードブリッジから入力させる制御部を更に備え、 前記電気部品に前記電流を印加して、前記電気部品から出力される出力電圧を測定する場合に、前記制御部は、前記第1の電流源と前記第2の電流源から前記ダイオードブリッジへの電流の供給を停止させる、ピンエレクトロニクス。
IPC (1件):
G01R 31/28 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01R 31/28 M
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (1件)
  • 特開昭60-253883

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