特許
J-GLOBAL ID：201103030295224347

試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法

発明者：
飯田 益大

飯田 益大 について

, 
平尾 圭司

平尾 圭司 について

, 
岡本 健太郎

岡本 健太郎 について


出願人/特許権者：
住友電気工業株式会社

住友電気工業株式会社 について


代理人 (7件)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫 ,  佐々木 眞人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-116229
公開番号（公開出願番号）：特開2011-242327
出願日： 2010年05月20日
公開日（公表日）： 2011年12月01日
要約：
【課題】迅速かつ高精度な測定を実現する試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法、を提供する。【解決手段】試料の断面形成方法は、減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料21に測定用断面22を形成するための方法である。試料の断面形成方法は、試料21を補強用シート31間に配置するステップと、補強用シート31に対してその両側から試料21を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、補強用シート31に外力を作用させた状態で、補強用シート31の端部を試料21ごと除去することによって、試料21に測定用断面22を得るステップとを備える。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料に測定用の断面を形成するための試料の断面形成方法であって、 試料をシート部材間に配置するステップと、 前記シート部材に対してその両側から試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、 前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、前記シート部材の端部を試料ごと除去することによって、試料に測定用の断面を得るステップとを備える、試料の断面形成方法。
IPC (4件)：
G01N 1/28 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/35
FI (5件)：
G01N1/28 G ,  G01N21/27 C ,  G01N1/28 W ,  G01N21/01 B ,  G01N21/35 Z
Fターム (13件)：
2G052AD12 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052EC01 ,  2G052GA11 ,  2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059CC12 ,  2G059DD01 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059HH01
引用特許：
審査官引用 (8件)
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