特許
J-GLOBAL ID：201103034315708651
色ムラ欠陥検査方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
高矢 諭
, 松山 圭佑
, 牧野 剛博
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-289451
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108626
特許番号：特許第4438140号
出願日： 1999年10月12日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 周期性パターンを有する対象物を撮像して得られた検査対象画像に基づいて、該周期性パターンに存在する色ムラを検査する色ムラ欠陥検査方法において、
必要に応じて前記検査対象画像の輝度を反転した輝度反転画像を作成し、
該輝度反転画像及び反転前の前記検査対象画像自体である輝度非反転画像の少なくとも一方について、
上から下方向に凹部2値化処理を行って上側凹部2値化画像を作成し、
下から上方向に凹部2値化処理を行って下側凹部2値化画像を作成し、
左から右方向に凹部2値化処理を行って左側凹部2値化画像を作成し、
右から左方向に凹部2値化処理を行って右側凹部2値化画像を作成し、
前記上側凹部2値化画像及び下側凹部2値化画像を合成して上下凹部2値化画像を作成し、
前記左側凹部2値化画像及び右側凹部2値化画像を合成して左右凹部2値化画像を作成し、
前記上下凹部2値化画像を判定・ラベリング処理して上下判定画像を作成し、
前記左右凹部2値化画像を判定・ラベリング処理して左右判定画像を作成し、
前記上下判定画像及び左右判定画像に基づいて色ムラ欠陥の最終判定を行う際、
前記各凹部2値化処理が、画素列を単位として上流側より任意の画素の輝度値の点を通る所定の傾きの直線により規定される閾値より低い輝度値の画素を凹部領域とする処理であることを特徴とする色ムラ欠陥検査方法。
IPC (4件)：
G01N 21/88 ( 200 6.01)
, G01B 11/24 ( 200 6.01)
, G01B 11/30 ( 200 6.01)
, G01N 21/958 ( 200 6.01)
G01N 21/88 J
, G01B 11/24 K
, G01B 11/30 A
, G01N 21/958
