特許
J-GLOBAL ID:201103043838982519

クロマトグラフ質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-021278
公開番号(公開出願番号):特開2000-131284
特許番号:特許第4151144号
出願日: 1999年01月29日
公開日(公表日): 2000年05月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】 a)目的試料の測定に先立って、試料成分を含まない前記目的試料の導入時と同一の溶媒のみを導入して所定の測定条件下でクロマトグラフ質量分析を行うことにより得られたデータをノイズデータとして記憶しておく記憶手段と、 b)前記目的試料を導入して前記所定の測定条件下でクロマトグラフ質量分析を行うことにより得られたデータに対し、同一保持時間及び同一質量数におけるノイズデータを前記記憶手段から読み出して減算する演算手段と、 c)該演算手段により減算処理されたデータを基にマススペクトル又はクロマトグラムを作成するデータ処理手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (3件):
G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  G01N 30/72 ( 200 6.01) ,  G01N 30/86 ( 200 6.01)
FI (6件):
G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 A ,  G01N 30/72 C ,  G01N 30/86 L ,  G01N 30/86 H
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (7件)
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