特許
J-GLOBAL ID：201103049651809960
光ファイバを用いた光変位センサ及びこの光変位センサを用いた変状監視システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原崎 正
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-248300
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057013
特許番号：特許第3599690号
出願日： 2001年08月17日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】光ファイバの曲率変化による透過光強度変化を利用して変位量を計測する光変位センサにおいて、光ファイバを弛緩状態で配設すると共に直径の異なる2つの円盤に光ファイバが数回巻かれた光非減衰円形曲線部と光減衰円形曲線部を備え、光非減衰円形曲線部の円盤直径を透過光の減衰しない35mmφ以上、光減衰円形曲線部の円盤直径を透過光の減衰する30mmφ以下とし、緊張状態で配設され変位検出箇所の変位に対応して伸縮する配線の伸縮量で光非減衰円形曲線部と光減衰円形曲線部における光ファイバの巻き数を変化させ、計測変位により両円盤への光ファイバの巻きつけ比を変化させる機構を備えたことを特徴とする光ファイバを用いた光変位センサ。
IPC (3件)：
G01B 11/16
, G01D 5/26
, G01D 21/00
G01B 11/16 Z
, G01D 5/26 D
, G01D 21/00 D
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (2件)
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