特許
J-GLOBAL ID:201103060334594870

Bi系2223酸化物超電導体製造に用いる仮焼粉の製造方法及びBi系2223酸化物超電導体の製造方法。

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 阿仁屋 節雄 ,  油井 透 ,  清野 仁
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-158635
公開番号(公開出願番号):特開2000-344525
特許番号:特許第4215180号
出願日: 1999年06月04日
公開日(公表日): 2000年12月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】下記式(1)で表されるBi-2223相の結晶と同じ組成を有し、 下記式(2)で表される組成を有する低温相の結晶と、Bi-2201相及び/又はBi,Pb,Sr,CaもしくはCuの少なくとも1種以上の酸化物からなる非超電導物質とからなる、Bi系2223酸化物超電導体製造に用いる仮焼粉の製造方法であって、 当該Bi系2223酸化物超電導体製造に用いる仮焼粉の製造工程における1次仮焼工程において、 1次仮焼の際の最高温度を720°C〜840°Cの間にある、第1の1次仮焼温度に設定して、第1の1次仮焼粉を得、 次に、1次仮焼の際の最高温度は720°C〜840°Cの間にあるが、前記第1の1次仮焼粉とは1次仮焼の際の最高温度が1°C以上異なるn種類の1次仮焼粉を得、 前記第1の1次仮焼粉と、前記n種類の1次仮焼粉とを混合粉砕して、1次仮焼粉の混合物を得、 当該1次仮焼粉の混合物へ、温度720〜840°C、0.1〜100時間の2次仮焼を行った後、混合粉砕して、2次仮焼粉を得、 当該2次仮焼粉へ、温度700〜800°C、0.1〜100時間の熱処理を行って、Bi系2223酸化物超電導体製造に用いる仮焼粉を得る、ことを特徴とする、Bi系2223酸化物超電導体製造に用いる仮焼粉の製造方法。 但し、 Bia-Pbb-Src-Cad-Cu3-Ox...(1) 但し、(l)式中の各成分のモル数a〜xは、Cuのモル数を3として規格化したとき、次の値を有する。 1.20≦a≦2.50 0≦b≦0.80 1.20≦c≦3.00 1.20≦d≦3.00 9.00≦x≦l0.00 Bia-Pbb-Src-Cad-Cu2-Ox ...(2) 但し、(2)式中の各成分のモル数a〜xはCuのモル数を2として規格化したとき、次の値を有する。 l.50≦a≦2.50 0≦b≦0.05 1.50≦c≦2.50 0.50≦d≦1.50 7.00≦x≦8.00 nは1以上の正の整数である。
IPC (3件):
C01G 29/00 ( 200 6.01) ,  C01G 1/00 ( 200 6.01) ,  C04B 35/45 ( 200 6.01)
FI (3件):
C01G 29/00 ZAA ,  C01G 1/00 S ,  C04B 35/00 ZAA K
引用特許:
審査官引用 (8件)
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