特許
J-GLOBAL ID：201103061687035251
液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 藤綱 英吉
, 須澤 修
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-258213
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066399
特許番号：特許第3846240号
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 液晶パネルのガラス基板上に所定の間隔をもって列設された第1の幅を有する複数の各電極に電圧を印加して該液晶パネルの検査を行う検査装置において、
プローブ端子用の基板と、
前記基板上に前記電極間の間隔とほぼ同一の間隔をもって列設され、前記第1の幅よりも小さな第2の幅を有する接触領域を有し、非接触領域が前記第2の幅より大きい第3の幅とされたプローブ端子群とを具備し、
前記プローブ端子の非接触領域は絶縁体で覆われ、前記プローブ端子の接触領域は表面が露出していることを特徴とする液晶パネルの検査装置。
IPC (6件)：
G02F 1/13 ( 200 6.01)
, G01R 1/073 ( 200 6.01)
, G01R 31/02 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
, G09F 9/00 ( 200 6.01)
, G09F 9/35 ( 200 6.01)
G02F 1/13 101
, G01R 1/073 F
, G01R 31/02
, G01R 31/28 K
, G09F 9/00 352
, G09F 9/35
