特許
J-GLOBAL ID：201103063735445214

半導体試験用プログラムデバッグ装置

発明者：
東 晋作

東 晋作 について

, 
福島 清

福島 清 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 雨貝 正彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-228487
公開番号（公開出願番号）：特開2001-051025
特許番号：特許第4213306号
出願日： 1999年08月12日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】半導体試験用プログラムに基づいて被検査用半導体デバイスに印加される試験信号を疑似的に発生して半導体試験装置の動作をエミュレートするテスタエミュレート手段と、 ハードウェア記述言語に基づいて前記被検査用半導体デバイスをシミュレートし、シミュレートされた前記被検査半導体デバイスに前記テスタエミュレート手段から出力される前記試験信号を供給し、この試験信号の供給に応じて前記被検査用半導体デバイスから出力される信号をシミュレートして出力するハードウェア記述言語シミュレート手段と、 前記ハードウェア記述言語シミュレート手段によってシミュレートされた前記被検査用半導体デバイスから出力される信号に基づいて前記半導体試験用プログラムのデバッグを行うデバッグ手段と を含んで構成されることを特徴とする半導体試験用プログラムデバッグ装置。
IPC (5件)：
G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  G01R 35/00 ( 200 6.01) ,  G06F 11/22 ( 200 6.01) ,  G06F 11/25 ( 200 6.01) ,  G06F 11/28 ( 200 6.01)
FI (5件)：
G01R 31/28 H ,  G01R 35/00 L ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/26 310 ,  G06F 11/28 340 C
引用特許：
審査官引用 (4件)
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