特許
J-GLOBAL ID:201103064119183369

半導体装置、電子回路装置および製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 隆久
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-349103
公開番号(公開出願番号):特開2001-168224
特許番号:特許第4045708号
出願日: 1999年12月08日
公開日(公表日): 2001年06月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 半導体基板と、 前記半導体基板の一方の面である第1面側に形成された半導体素子と、 前記半導体基板を搭載する絶縁基板と、 前記半導体基板と前記絶縁基板との層間に形成され、前記半導体素子に電気的に導通する配線パターンと、 前記絶縁基板に形成され、前記配線パターンに達するスルーホールと、 前記スルーホール内の側面を被覆する絶縁層と、 前記スルーホール内に前記絶縁層を介して形成され、前記配線パターンに接続し、導電体からなるスルーホール埋め込み部と、 前記スルーホール埋め込み部に接続し、外部端子となるはんだバンプとを有する 半導体装置。
IPC (1件):
H01L 23/12 ( 200 6.01)
FI (1件):
H01L 23/12 L
引用特許:
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る