内部品質計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：北村修一郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-008976
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214135
特許番号：特許第3576105号
出願日： 2001年01月17日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被計測物存在予定領域に位置する被計測物に光を照射する投光部と前記被計測物からの透過光に基づいてデータを取得する受光部とを備えて構成されるデータ取得手段と、そのデータ取得手段が取得したデータに基づいて前記被計測物の内部品質を求める品質導出手段と、前記被計測物存在予定領域と前記データ取得手段との相対位置関係を調節する位置調節手段とが設けられた内部品質計測装置であって、前記被計測物が、前記被計測物存在予定領域を通過するように搬送手段にて搬送されるように構成され、前記被計測物存在予定領域とは異なる箇所に、校正用の基準体が配置され、前記位置調節手段の調節により、前記被計測物のデータを取得する状態と、前記基準体に光を照射して前記基準体からの透過光に基づいて前記基準体のデータを取得する状態とに切り換えられるように構成され、前記品質導出手段が、前記被計測物のデータ及び前記基準体のデータに基づいて、前記内部品質を求めるように構成され、前記データ取得手段が、前記被計測物存在予定領域の上方側を迂回するように設けられた枠体に前記投光部と前記受光部とが前記被計測物存在予定領域の左右両側箇所に振り分け配置される状態で一体的に組み付けられて構成され、前記位置調節手段が、固定部に対して位置固定状態で設置されて前記枠体を移動案内するガイド部材を備えて、前記枠体を移動調節するように構成され、前記基準体が、前記ガイド部材に固定状態で設けられている内部品質計測装置。

IPC (4件)：

G01N 21/35 , B07C 5/342 , G01N 21/27 , G01N 21/85

FI (4件)：

G01N 21/35 Z , B07C 5/342 , G01N 21/27 F , G01N 21/85 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

対象物内部品質測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-125547 出願人：三井金属鉱業株式会社
分光分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-291097 出願人：株式会社クボタ
分光分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-291098 出願人：株式会社クボタ

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