米粒品位判別装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-218091
公開番号（公開出願番号）：特開2001-041895
特許番号：特許第4345148号
出願日： 1999年07月30日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光源からの光線を透過する材料で形成される粒状物保持手段と、該粒状物保持手段に供給される単層状態で複数列に並べた米粒に米粒の長さ方向の両端側及び米粒の幅方向の両端側からの少なくとも4方向から斜光光線を照射するよう複数に区分した第1の光源と、該光源から前記米粒に照射して得られた斜光透過画像を取得する第1の撮影手段と、前記光源のそれぞれを独立した電源系統に形成してオン・オフ制御を行う光源駆動手段と、該光源駆動手段により前記光源を順次照射して得られた4方向からの斜光透過画像に基づいて米粒の胴割に関連する光学情報に変換する画像処理部と、該画像処理部により得られた光学情報に基づいて胴割を判別する演算制御手段と、該演算制御手段から得られた米粒の胴割れ判別結果及び前記画像処理部から得られた光学情報を同時に表示又は印字する表示手段とを備えたことを特徴とする米粒品位判別装置。

IPC (2件)：

G01N 21/85 ( 200 6.01) , G01N 21/88 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01N 21/85 A , G01N 21/88 J

引用特許：

出願人引用 (10件)

米粒検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-316343 出願人：松下電工株式会社
米粒判別装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-208646 出願人：株式会社ケット科学研究所
米粒検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-011013 出願人：松下電工株式会社

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審査官引用 (12件)

米粒検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-316343 出願人：松下電工株式会社
米粒判別装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-208646 出願人：株式会社ケット科学研究所
米粒検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-011013 出願人：松下電工株式会社

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