半導体試験装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：龍華国際特許業務法人
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-138827
公開番号（公開出願番号）：特開2000-039469
特許番号：特許第4408986号
出願日： 1999年05月19日
公開日（公表日）： 2000年02月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】ピン・マルチプレクスモードを用いてDUTへの試験波形を発生する半導体試験装置において、ユーザが設定した1テスト周期中での複数のユーザ設定パターン信号を波形メモリから受け、同一パターンエッジ信号が連続するときに後続するパターンエッジ信号を消去し、異なるパターンエッジ信号の真に変化するパターンエッジ信号のみを出力する仮想タイミング発生器と、前記仮想タイミング発生器から伝送された真に変化するパターンエッジ信号を順番に発生させて波形整形器に伝送するタイミング発生器と、を備える半導体試験装置。

IPC (1件)：