特許
J-GLOBAL ID：201103081453424271

レーダモジュールの光軸測定方法、光軸調整方法、およびレーダモジュール

発明者：
近藤 靖浩

近藤 靖浩 について


出願人/特許権者：
株式会社村田製作所

株式会社村田製作所 について


代理人 (1件)： 小森 久夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-378952
公開番号（公開出願番号）：特開2003-177176
特許番号：特許第3788337号
出願日： 2001年12月12日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レーダモジュールを被装着体に装着し、前記レーダモジュールからの距離および、方向が異なった少なくとも二つのリフレクタをそれぞれ設置し、各リフレクタからの反射信号を受信するレーダモジュールの光軸測定方法において、 前記レーダモジュールから光軸方向へ放射されるビームの範囲内に設置された、前記ビームに対する散乱断面積がいずれも等しい、いずれか二つのリフレクタそれぞれから求めた反射信号強度、および、前記レーダモジュールから各リフレクタまでの距離、前記被装着体の基準軸に対する各リフレクタの方向、前記レーダモジュールの利得関数に基づいて、前記被装着体の基準軸に対するレーダモジュールの光軸の方向ずれを算出するステップを有するレーダモジュールの光軸測定方法。
IPC (3件)：
G01S 7/481 ( 200 6.01) ,  G01S 7/40 ( 200 6.01) ,  G01B 11/27 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01S 17/02 B ,  G01S 7/40 C ,  G01B 11/27 Z
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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