特許
J-GLOBAL ID:201103081476731368
半導体装置の配線方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
板垣 孝夫
, 森本 義弘
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-237652
公開番号(公開出願番号):特開2000-150654
特許番号:特許第3611020号
出願日: 1999年08月25日
公開日(公表日): 2000年05月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】注目信号線の両隣に第1の信号線と第2の信号線とが形成されている半導体装置の製造方法において、注目信号線と第1の信号線との配線スペースと、注目信号線と第2の信号線との配線スペースとの和が、配線幅の最小デザインルールと配線スペースの最小デザインルールの3倍との和以上である場合に、注目信号線の配置を変更して、この配置を変更した注目信号線と第1の信号線との配線スペースにフローティング状態のダミー配線を配置し、第1の信号線とダミー配線との間のスペースと、注目信号線とダミー配線との間のスペースと、注目信号線と第2の信号線との間のスペースとを、それぞれ配線スペースの最小デザインルールに等しくし、第1の信号線とダミー配線との間のスペースと、注目信号線とダミー配線との間のスペースと、注目信号線と第2の信号線との間のスペースとにそれぞれエアーボイドを形成することを特徴とする半導体装置の配線方法。
IPC (3件):
H01L 21/768
, H01L 21/3205
, H01L 21/82
FI (3件):
H01L 21/90 J
, H01L 21/88 S
, H01L 21/82 W
引用特許:
審査官引用 (5件)
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半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-322236
出願人:富士通株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-043312
出願人:日本電気株式会社
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半導体装置及び配線用レチクルの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-199967
出願人:川崎製鉄株式会社, パイオニアビデオ株式会社, パイオニア株式会社
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半導体装置およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-198362
出願人:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社, 日立北海セミコンダクタ株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-229705
出願人:新日本製鐵株式会社
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