特許
J-GLOBAL ID：201103083143813904
特に隠れたはんだ接合部の外観検査装置及び外観検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長門 侃二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-257415
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131029
特許番号：特許第4030693号
出願日： 1999年09月10日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 特に、実装基板(19)の表面に配置された電気部品又は電子部品(20)と実装基板(19)との間の、特に、隠れたはんだ接合部(21)の外観検査装置において、
接眼鏡ユニット(3)と、レンズヘッド(2)、レンズヘッド(2)によって受像した画像を接眼鏡ユニット(3)に伝達する画像伝達ユニット(4)、及びテストされるはんだ接合部(21)を照明する照明装置(15,16)を有する外観検査装置であって、
レンズヘッド(2)は、外観検査時にその軸線方向外側端が前記電気部品又は電子部品に近接され、前記軸線方向外側端まで延びる画像偏向装置(9)を有し、レンズヘッド(2)から出る照明装置(15,16)の光の出射角が画像偏向装置(9)の偏向角と実質的に等しく、光の出口は、前記軸線方向外側端の領域において前記画像偏向装置(9)に隣接して配置されていることを特徴とする、特に、隠れたはんだ接合部の外観検査装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ( 200 6.01)
, G01N 21/956 ( 200 6.01)
G01B 11/24 K
, G01N 21/956 B
