特許
J-GLOBAL ID:201103099659801469
積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
三好 秀和
, 伊藤 正和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-159675
公開番号(公開出願番号):特開2011-135032
出願日: 2010年07月14日
公開日(公表日): 2011年07月07日
要約:
【課題】本発明は、積層セラミックキャパシタ及びその製造方法に関する。【解決手段】本発明は、加圧工程時に有効層の段差の発生による内部電極の長さの差と、製品の信頼性との関係を提供するものであって、内部電極及び誘電体層が交互に積層されたキャパシタを加圧及び切断した後に焼成し、本発明の実施例によると、内部電極及び誘電体層が交互に積層されて形成されたキャパシタ本体を含み、前記内部電極の最大の長さをLとし、前記内部電極の最小の長さをlと定義すると、この際の内部電極の長さの差の比率(D={L-l}/L×100)が7%以下となる積層セラミックキャパシタ及びその製造方法が提供される。【選択図】図2a
請求項(抜粋):
内部電極及び誘電体層が交互に積層されて形成されたキャパシタ本体を含み、
前記内部電極の最大の長さをLとし、前記内部電極の最小の長さをlと定義すると、この際の内部電極の長さの差の比率(D={L-l}/L×100)が7%以下となることを特徴とする積層セラミックキャパシタ。
IPC (2件):
FI (7件):
H01G4/12 352
, H01G4/12 364
, H01G4/12 349
, H01G4/30 301C
, H01G4/30 301E
, H01G4/30 311F
, H01G4/30 311A
Fターム (25件):
5E001AB03
, 5E001AC09
, 5E001AE02
, 5E001AE03
, 5E001AF06
, 5E001AH05
, 5E001AJ01
, 5E001AJ02
, 5E082AA01
, 5E082AB03
, 5E082BC38
, 5E082CC03
, 5E082CC13
, 5E082EE04
, 5E082EE23
, 5E082EE35
, 5E082FF05
, 5E082FG04
, 5E082FG26
, 5E082FG46
, 5E082FG48
, 5E082GG10
, 5E082JJ03
, 5E082JJ23
, 5E082LL03
引用特許:
前のページに戻る