特許
J-GLOBAL ID：201203009843198110

画像処理装置及び外観検査方法

発明者：
佐伯 和人

佐伯 和人 について

, 
井上 泰平

井上 泰平 について


出願人/特許権者：
株式会社キーエンス

株式会社キーエンス について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-160994
公開番号（公開出願番号）：特開2012-021914
出願日： 2010年07月15日
公開日（公表日）： 2012年02月02日
要約：
【課題】 安定的に検査領域を特定することが可能な画像処理装置及び外観検査方法を提供する。【解決手段】 濃淡画像を取得する濃淡画像取得手段110と、距離画像を生成する距離画像生成手段130と、濃淡画像と距離画像の一方の画像において、他方の画像上で検査範囲に相当する検査領域を特定するための特定パターンを検出する特定パターン検出手段150と、濃淡画像と距離画像の他方の画像において、特定パターン検出手段により検出された特定パターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、検査領域を特定する検査領域特定手段170と、特定された検査領域から特徴量を算出する特徴量算出手段180と、算出された特徴量に基づいて、ワークの良否を判定する判定手段190と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ワークを撮像するカメラを有し、当該カメラから取得した画像に基づいてワーク表面における所定の検査範囲を検査し、ワークの良否を判定する画像処理装置において、 各画素が、前記カメラの受光量に応じた濃淡値を有する濃淡画像を取得する濃淡画像取得手段と、 前記カメラから取得した画像を用いて、前記カメラからワーク表面までの距離を算出する距離算出手段と、 各画素が、算出された距離に応じた濃淡値を有する距離画像を生成する距離画像生成手段と、 前記濃淡画像と前記距離画像の一方の画像において、他方の画像上で前記検査範囲に相当する検査領域を特定するための特定パターンを検出する特定パターン検出手段と、 前記濃淡画像と前記距離画像の他方の画像において、前記特定パターン検出手段により検出された特定パターンの位置及び傾斜角度の少なくとも一方に基づいて、前記検査領域を特定する検査領域特定手段と、 特定された前記検査領域から特徴量を算出する特徴量算出手段と、 算出された特徴量に基づいて、ワークの良否を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/85 ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00
FI (4件)：
G01N21/88 J ,  G01N21/85 Z ,  G01B11/30 Z ,  G06T1/00 300
Fターム (46件)：
2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA12 ,  2F065AA20 ,  2F065AA31 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065BB27 ,  2F065DD04 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065FF10 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065SS04 ,  2G051AA07 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051DA15 ,  2G051EA16 ,  2G051EA23 ,  2G051ED01 ,  2G051ED21 ,  5B057AA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DA13 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC06 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B057DC30
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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