特許
J-GLOBAL ID:201203014961037133
診断デバイスおよび関連する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
清原 義博
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-506190
公開番号(公開出願番号):特表2012-524279
出願日: 2010年04月14日
公開日(公表日): 2012年10月11日
要約:
サンプル中に1以上の分析物が存在するかどうかを調べるデバイス、システム、および、方法が記載されている。変更形態によっては、試験ストリップは、サンプル中の1以上の分析物を検出および/または分析するために用いられる。特定の変更形態では、分析物の検出のためにサンプルを収容するように構成された試験ストリップは、基質と、基質の一部上の被膜とを含み、前記被膜は、第1の分析物と結合するように構成された第1の分析物捕捉剤と、第1の分析物とは異なる第2の分析物と結合するように構成された第2の分析物捕捉剤との組み合わせを含む。【選択図】図3D
請求項(抜粋):
内部の分析物の検出のためにサンプルを収容するように構成された試験ストリップであって、
前記試験ストリップは、
基質と
基質の一部上の被膜を含み、
前記被膜は、第1の分析物と結合するように構成された第1の分析物捕捉剤と、第1の分析物とは異なる第2の分析物と結合するように構成された第2の分析物捕捉剤との組み合わせを含むことを特徴とする試験ストリップ。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N33/543 521
, G01N33/543 575
, G01N21/78 C
Fターム (30件):
2G054AA02
, 2G054AA07
, 2G054AB05
, 2G054AB07
, 2G054BB06
, 2G054BB11
, 2G054CA20
, 2G054CA22
, 2G054CA23
, 2G054CA25
, 2G054CD04
, 2G054CE02
, 2G054EA03
, 2G054EB01
, 2G054EB02
, 2G054FA12
, 2G054FA16
, 2G054FA17
, 2G054FA19
, 2G054FA20
, 2G054FA33
, 2G054GA01
, 2G054GA02
, 2G054GA03
, 2G054GA04
, 2G054GA05
, 2G054GA08
, 2G054GE01
, 2G054JA01
, 2G054JA05
引用特許:
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